鑑定判斷要點

鑑定判斷要點：

        經濟部智慧財產局於中華民國105年2月發布施行之專利侵權判斷要點的「3.3.2被控侵權對象之技術特徵為系爭專利之請求項對應技術特徵的下位概念技術特徵」內容中述及：「上位概念，指複數技術特徵屬於同族或同類的總括概念，或複數技術特徵具有類似本質之總括概念。下位概念，指相對於上位概念表現為下位之特定概念。

        若系爭專利之請求項記載的技術特徵為上位概念者，而被控侵權對象之對應技術特徵為其下位概念者，應判斷被控侵權對象符合文義讀取。例如系爭專利之請求項的技術手段為元件A＋B＋C＋D，被控侵權對象之技術內容為元件A＋B＋C＋Ｄ，其中D為上位概念技術特徵，而Ｄ為其下位概念技術特徵，則被控侵權對象符合文義讀取。」